Versuchsangebot im Summer Term 2017

AG - Schwerpunkt Astro- und Geophysik

BK - Schwerpunkt Biophysik und Komplexe Systeme

FM - Schwerpunkt Festköper- und Materialphysik

KT - Schwerpunkt Kern- und Teilchenphysik

BK.ABB

Analysis of Brownian Motion ...

BK.GAS

Gliding Assays: Measurement of ATP Dep.

BK.LIP

Lipid Monolayers – Film Balance

BK.MDS

Molecular Dynamics Simulations of Proteins

BK.MIF

Microfluidics

BK.NLF

Nd:YAG Laser and SHG

BK.NSE

Nanostructuring ...

BK.PKR

Phase Contrast Radiography

BK.SLM

X-ray reflectivity study of lipid membranes

BK.STM

STED Microscopy

BK.TRS

Total Reflection of X-rays ...

AG.RBK

Rayleigh-Bénard Convection

Versuch

BK.TRS

Summer Term 2017 - Schwerpunkt Biophysik und Komplexe Systeme

Total Reflection of X-rays and X-ray Reflectivity of Thin Films

In vielen Bereichen moderner Technologie spielen dünne Schichten eine herausragende Rolle. Ein schnelles, zerstörungsfreies und relativ einfaches Verfahren zur Bestimmung von Schichtdicken, Elektronendichte sowie Ober- bzw. Grenzrauigkeiten von Ein- und Mehrfachschichtstrukturen im Nanometerbereich stellt die Röntgenreflektometrie dar. In diesem Versuch wird zunächst die Oberfläche eines Si-Wafers mittels Röntgenreflektometrie charakterisiert. Dann wird mit der Spin-Coating-Technik eine Polymerschicht aufgebracht und die Schichtdicke sowie die Oberflächenrauigkeit dieser Schicht bestimmt.

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Betreuer:

M. Hildebrand

Qi Zhong

Prüfer:

Prof. T. Salditt

Prof. S. Köster

Standort:

Belegung im Summer Term 2017

Anleitung BK.TRS (854k)

Sprache(n)

E